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DEBEN社 SEM用
STEM検出器
DEBEN社 SEM用
BSD検出器
DEBEN社 SEM用ペルチェ加熱冷却ステージ DEBEN社 SEM用
チェンバースコープ
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TEMグリッド/サンプル・ホルダー Nano SIMS 依頼分析サービス 排気・真空引きができる
高性能電子レンジH2850
表面分析装置及びコンポー
ネント販売・技術サポート
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JEOL社製 FEオージェ装置 ツイン・イオンミリングシステム
SC-1000
磁場キャンセリングシステム ロータリーポンプ・コントローラ
 展示会出展のお知らせ

弊社は、医学生物学電子顕微鏡技術学会  
第31回学術講演会 商業展示会に出展いたします。
会場:名古屋市立大学 桜山キャンパス 本部棟4階ホール
展示会:2015年6月20日〜21日
    主催 : 医学生物学電子顕微鏡技術学会        
主な展示品:SEM用アップグレードアクセサリー
(ペルチェ加熱冷却ステージ、チェンバースコープIRカメラ、
STEM検出器、BSD検出器、) NanoSIMS依頼分析
真空排気マイクロウェーブ、その他
 日本顕微鏡学会第71回学術講演会    展示会ご来場ありがとうございました。  チェンバースコープ(IRカメラ)、
SEM用ペルチェ 加熱・冷却ステージ、
SEM用STEM検出器が好評でした。 

開催日:2015年5月13日〜5月15日
  会場: 京都国際会館
        主催: 日本顕微鏡学会                     
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 2015.5.27
英国Deben社製 チェンバースコープ (IRカメラ)
SEMチェンバー内を明るく観察するIRカメラです。
複数のSEM用アクセサリーを装着する際、試料移動や他のアクセサリーとの衝突防止、試料角度や位置の確認に適しています。
英国Deben社製 クールステージ (ペルチェ加熱冷却ステージ)

−50℃〜+50℃の範囲で試料の加熱冷却が行えます。 液体窒素を使用しない低ランニングコスト。 デジタル表示の温度設定キーパッドで操作も簡単に行え、SEMへの取付、取外しが容易です。。

 2015.5.27
ルクセンブルク LIST研究所 の表面分析受託業務をITソル―ション社 との業務提携により承っております。 
特にビーム径50nmのイオンでイメージング分析が行えるNanoSIMS分析、ToFSIMS、ほか経験豊富な技術者が試料測定からレポート作成をいたします。  

 2015.5.27
米国EBサイエンス社 H2850型 マイクロウェーブプロセッサー
真空引きや排気が行える高性能電子レンジです。 
電子顕微鏡の試料前処理で、設定温度での真空引き、ガス導入、吸着、連続撹拌、着色、脱泡、軟化、硬化、乾燥、などに良く使用されています。
 

 2015.5.27
表面分析装置XPS、UPS、Augerのメンテナンスサポート
を行っています。
電源ユニットや真空部品などの修理も行いますのでお気軽にお問い合わせください。
また、JEOL社製JAMP−9510Fフィールドエミッションオージェ装置
販売協力を始めました。 表面ナノ領域での元素分析や
化学結合状態を高エネルギー分解能HSAアナライザーにて測定します。  
試料最表面の微小領域の化学結合状態分析に最適です。