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DEBEN社 SEM用
STEM検出器
DEBEN社 SEM用
BSD検出器
DEBEN社 SEM用ペルチェ加熱冷却ステージ DEBEN社 SEM用
チェンバースコープ
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TEMグリッド/サンプル・ホルダー Nano SIMS 依頼分析サービス 排気・真空引きができる
高性能電子レンジH2850
表面分析装置及びコンポー
ネント販売・技術サポート
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JEOL社製 FEオージェ装置 ツイン・イオンミリングシステム
SC-1000
磁場キャンセリングシステム DEBEN社 SEM用
HAADF検出器
新製品情報
英国デーベン社製 SEM用アップグレードアクセサリー  
HAADF アニュラーSTEM検出器             
HAADF :High Angle Annular Dark Field        
   米国EBサイエンス社製簡易型  
    マイクロウェーブティッシュプロセッサー       
    H2850Pの姉妹品  
    H1850 簡易型マイクロウェーブティッシュプロセッサー
    H2250ユーティリティーマイクロウェーブティッシュプロセッサー
 展示会情報
  第40回日本顕微鏡学会関東支部講演会 機器展示
  開催日:平成28年2月27日(土)
       9:00〜18:00
  会 場:帝京大学板橋キャンパス
  主な展示内容:HAADF ほか

 日本金属学会2016年春期講演大会 併設展示会 

   開催日:2016年 3月23日〜25日
     会場: 東京理科大学 葛飾キャンパス
     主催: 日本金属学会  

 取り扱い製品カタログをご希望の方は上の写真をダブルクリック  すると表示されます。
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 2016.2.5
 英国Deben社製 HAADF アニュラーSTEM検出器
 SEMアップグレードアクセサリー 
 SEMに取り付け、薄くした試料に電子を走査し、透過する電子を検出します。
 BF及び3つのアニュラーDF検出器セグメント
 3つのアニュラーDF検出器のLA(低角)、MA(中間角)、HA(高角)及び
 キャピラリーを通したBF検出器で構成されています。
 任意のセグメントの組み合わせでイメージ処理が行えます。

 SEMによっては構造上の問題等で取り付けられない場合がございます。
 ご興味をお持ちの方はお問い合わせください。
 上のHAADFコラムの写真をダブルクリックするとカタログが表示されます。

 2015.11.12
 NanoSIMS分析
 ルクセンブルク LIST研究所 の表面分析受託業務をITソル―ション社 との業務
 提携により承っております。 特にビーム径50nmのイオンでイメージング分析が行
 える
 NanoSIMSに経験豊富な技術者が試料測定からレポート作成をいたします。  

 2015.11.12
 米国EBサイエンス社 簡易型マイクロウェーブティッシュプロセッサー。
 H2850P/PVの姉妹品
 H1850 簡易型マイクロウェーブティッシュプロセッサー
 一般的な実験用 160W、 320W、480W、800Wのパワー設定
 H2250 ユーティリティーマイクロウェーブティッシュプロセッサー。
 可変パワー設定、アジテーション、20プログラムのセットアップ保存
 

 2015.11.12
 表面分析装置XPS、UPS、Augerのメンテナンスサポート
を行っています。
 電源ユニットや真空部品などの修理も行いますのでお気軽にお問い合わせください。
 長期使用による劣化のための部品交換、代用品などのご相談も受け付けております。